本發(fā)明屬于核電裝置檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種核電裝置密封圈失效原因的綜合判定方法。了解密封圈的工藝參數(shù)、運(yùn)行工況;對(duì)失效的密封圈進(jìn)行外觀檢查;采用三維體視顯微鏡、掃描電鏡等方法對(duì)失效的密封圈和密封溝槽進(jìn)行更為細(xì)致的觀察;采用一種或多種表征方法對(duì)密封介質(zhì)進(jìn)行成分分析;采用一種或多種表征方法對(duì)失效密封圈的成分、性能進(jìn)行分析;檢查密封圈的尺寸與溝槽尺寸是否符合設(shè)計(jì)要求;綜合以上的分析步驟,從現(xiàn)象到本質(zhì),確定密封圈失效的主要原因。本發(fā)明通過(guò)對(duì)EH系統(tǒng)失效密封圈進(jìn)行系統(tǒng)有效的分析后,可準(zhǔn)確、快速地判斷出密封圈失效的原因,進(jìn)而采取針對(duì)性的預(yù)防。本方法對(duì)電力、石化、化工、冶金等其他領(lǐng)域密封圈的安全使用也具有實(shí)用參考價(jià)值。
聲明:
“核電裝置EH系統(tǒng)密封圈失效原因的綜合判定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)