本發(fā)明涉及一種用于電磁輻射的探測(cè)器,其包括:第一電極層,其包括至少一個(gè)第一電極像素和第二電極像素;第二電極;和包含至少一種第一
鈣鈦礦的第一層,所述第一層位于第一電極層的第一電極像素和第二電極之間;和包含至少一種與第一鈣鈦礦不同的第二鈣鈦礦的第二層,所述第二層位于第一電極層的第二電極像素與第二電極之間;一種用于電磁輻射的探測(cè)器,其包括:第一電極層,所述第一電極層包括至少一個(gè)第一電極像素和第二電極像素;第二電極;和包含至少一種第一鈣鈦礦的第一層,所述第一層位于第一電極層的第一電極像素與第二電極之間,并且位于第一電極層的第二電極像素與第二電極之間;以及涉及一種用于制造探測(cè)器的方法。
聲明:
“用于電磁輻射的探測(cè)器和用于其的制造方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)