本發(fā)明涉及一種高精度聚變中子能譜測(cè)量裝置及方法。本發(fā)明的目的是解決現(xiàn)有聚變中子能譜測(cè)量裝置及方法,若采用反沖質(zhì)子磁分析法,僅適用于高中子產(chǎn)額下的診斷,若采用中子飛行時(shí)間法,尚難以利用同一探測(cè)系統(tǒng)同時(shí)有效獲得初始時(shí)間波形和響應(yīng)波形,若采用不同探測(cè)系統(tǒng),又會(huì)額外引入時(shí)間差,進(jìn)而引起求解飛行時(shí)間展寬、多普勒能譜展寬和聚變等離子體溫度特征等精度下降的技術(shù)問(wèn)題。該測(cè)量裝置包括富氫
鈣鈦礦閃爍體、光電轉(zhuǎn)換器件、電源,以及示波器和計(jì)算機(jī);光電轉(zhuǎn)換器件的光陰極面向富氫鈣鈦礦閃爍體;光電轉(zhuǎn)換器件的輸出端連接示波器的輸入端,示波器的輸出端連接計(jì)算機(jī)的輸入端。該測(cè)量方法利用該高精度聚變中子能譜測(cè)量裝置進(jìn)行。
聲明:
“高精度聚變中子能譜測(cè)量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)