本發(fā)明公開的后置分光瞳激光差動共焦質譜顯微成像方法與裝置,屬于共焦顯微成像及質譜成像測量技術領域。本發(fā)明將后置分光瞳激光差動共焦顯微成像技術與質譜探測技術結合,利用質譜探測系統(tǒng)對樣品微區(qū)帶電分子、原子等進行質譜探測,利用激光質譜探測和后置分光瞳差動共焦探測結構融合實現(xiàn)樣品微區(qū)組分信息與形態(tài)參數(shù)的高空間分辨和高靈敏成像與探測。本發(fā)明可為生物醫(yī)學、材料科學、礦產、微納制造等領域形態(tài)成像及物質組分探測提供一條全新的有效技術途徑。
聲明:
“后置分光瞳激光差動共焦質譜顯微成像方法與裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)