本發(fā)明提供了一種厚層灰?guī)r覆蓋區(qū)隱伏花崗巖體示蹤的方法,包括如下步驟:S1:首先在厚層灰?guī)r覆蓋區(qū)采集不同類型的方解石礦物;S2:對方解石開展顯微鑒定與LA?ICP?MS含礦元素和
稀土元素分析;S3:將方解石磨成粉末,開展C?O同位素組成分析;S4:根據(jù)方解石的含礦元素含量、稀土配分型式、δ13CPDB與δ18OSMOW值判別深部是否存在巖漿活動;S5:通過方解石U?Pb定年,精確厘定深部巖漿活動的時代;S6:采用廣域電磁測深與面分析方法探測深部巖體的空間形態(tài)。本發(fā)明可以有效判定厚層灰?guī)r覆蓋區(qū)深部有無巖漿巖活動、可以準確約束深部巖漿巖侵位的時間、有效反演出深部高阻體的形態(tài)等優(yōu)點。
聲明:
“厚層灰?guī)r覆蓋區(qū)隱伏花崗巖體示蹤的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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