本發(fā)明涉及材料識別技術領域的一種基于太赫茲的材料識別裝置,解決了檢測誤差較大的問題。其技術要點是:包括激光發(fā)射組件、太赫茲發(fā)射組件、延遲組件、太赫茲探測組件、數(shù)據(jù)采集模塊、存儲器和被測物輸送組件。還公開了垃圾分選系統(tǒng),包括:控制模塊、取料裝置和上述中的基于太赫茲的材料識別裝置。太赫茲輻射波穿透被測材料,獲得太赫茲光譜,從而實現(xiàn)識別被測物拆料的功能。第一凸透鏡、第二凸透鏡、傳送帶和限高桿的相對結構,使被測物均能保持在太赫茲輻射波的焦點上,達到提高檢測精度的效果,從而能廣泛應用于不同的領域和場合,如垃圾分類和礦石分選等。
聲明:
“基于太赫茲的材料識別裝置和垃圾分選系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)