本發(fā)明涉及一種基于垂直剖面上裂變徑跡長(zhǎng)度分布的熱史模擬方法、系統(tǒng)及設(shè)備,該方法通過(guò)獲取垂直剖面上不同高度的N個(gè)樣品,對(duì)N個(gè)樣品進(jìn)行分析、處理,得到符合需求的樣品,通過(guò)符合需求每個(gè)樣品的熱史曲線生成待模擬地質(zhì)最終的熱史模擬結(jié)果,該熱史模擬結(jié)果準(zhǔn)確率高;該基于垂直剖面上裂變徑跡長(zhǎng)度分布的熱史模擬方法在地質(zhì)的熱史模擬中不受地質(zhì)類型的限制,使用廣泛,解決了現(xiàn)有采用裂變徑跡方法獲取的數(shù)據(jù)得到的熱史模擬應(yīng)用在能源勘探中存在局限性且模擬數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確的技術(shù)問題。
聲明:
“基于垂直剖面上裂變徑跡長(zhǎng)度分布的熱史模擬方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)