本發(fā)明公開了一種剩余靜校正方法,包括:在基于標準層質量控制的高程靜校正后的疊加剖面中選擇標志層;依據工區(qū)內現有地質和物探資料修正標志層;對修正后的疊加數據進行去噪處理,得到用于剩余靜校正的外部模型;基于所述剩余靜校正外部模型采用多次迭代的方式求取地表一致性剩余靜校正的靜校正量。本發(fā)明充分利用疊加數據中高信噪比的數據,結合現有地質和物探資料修正疊加數據中低信噪比的數據,從而使剩余靜校正的處理更加有效,得到的靜校正量更加精確。
聲明:
“剩余靜校正方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)