權(quán)利要求

1.智能礦石分選機(jī)，包括控制組件，其特征在于，還包括連接有振動(dòng)給料機(jī)(100)的輸送帶(500)以及沿所述輸送帶(500)的輸送方向依次設(shè)置的三維激光成像系統(tǒng)(300)、第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)(400)與第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述輸送帶(500)的上方還設(shè)置有分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)(200)，所述輸送帶(500)、所述三維激光成像系統(tǒng)(300)、所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)(400)、所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及所述分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)(200)均與所述控制組件電連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能礦石分選機(jī)，其特征在于，所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)(400)為X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括鉛房以及設(shè)置于所述鉛房?jī)?nèi)的高頻恒壓X射線機(jī)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能礦石分選機(jī)，其特征在于，所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)(400)為X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括防護(hù)罩以及設(shè)置在所述防護(hù)罩內(nèi)的X射線源陣列與X熒光接收器陣列。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能礦石分選機(jī)，其特征在于，所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)為視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括工業(yè)相機(jī)(600)、補(bǔ)光鏡(700)以及背光鏡(800)，所述工業(yè)相機(jī)(600)設(shè)置在所述輸送帶(500)的上方，所述背光鏡(800)對(duì)應(yīng)設(shè)置在所述輸送帶(500)的下方，所述補(bǔ)光鏡(700)有若干個(gè)并設(shè)置在所述工業(yè)相機(jī)(600)的周側(cè)。

說(shuō)明書

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及分選機(jī)械設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及智能礦石分選機(jī)。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的智能礦石分選機(jī)大多是基于X射線成像或者X熒光光譜檢測(cè)識(shí)別技術(shù)實(shí)現(xiàn)礦石分選功能，基于X射線成像的原理是在X射線穿透礦石后，利用礦石中礦元素和其他元素對(duì)X射線的衰減能力不同，最后成像得到的圖像存在顏色深淺差異，以此來(lái)識(shí)別礦石中礦物質(zhì)的含量，而由于礦物質(zhì)元素一般對(duì)X射線的衰減能力較強(qiáng)，成像之后的顏色會(huì)相對(duì)較深，而不含或者含量較少的礦石則對(duì)X射線的衰減能力較弱，成像之后的顏色會(huì)相對(duì)較淺，但如果原礦料粉碎不均勻，有些粉碎后含量較高的礦石厚度較薄，那么經(jīng)過(guò)X射線成像后得到的圖像較淺，這樣不利于識(shí)別礦石而降低選礦的質(zhì)量；而基于X熒光光譜檢測(cè)的技術(shù)也存在同樣的問(wèn)題，遇到原礦料粉碎不均勻而產(chǎn)生厚度較薄的礦石時(shí)，設(shè)備會(huì)將該種類礦石識(shí)別為廢石，影響識(shí)別礦石而降低選礦的質(zhì)量；而當(dāng)?shù)V石經(jīng)過(guò)X射線成像技術(shù)識(shí)別出來(lái)后，將會(huì)得到合格礦石和廢石兩種材料，但廢石中并非都是價(jià)值低廉的變質(zhì)巖，通常分離后的廢石會(huì)含有一定量的石英在里面，石英的用途較廣，可廣泛用于玻璃、鑄造、陶瓷、塑料、橡膠及耐火材料，因此，石英相對(duì)變質(zhì)巖更具有商用價(jià)值，但是現(xiàn)有的礦石分選機(jī)只是將礦石和廢石進(jìn)行分離，不具備將廢石中的石英分離的功能。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種智能礦石分選機(jī)，不僅可以將合格礦石與廢石檢測(cè)出來(lái)，針對(duì)廢石中具有廣泛商業(yè)價(jià)值的石英也能夠與變質(zhì)巖進(jìn)行進(jìn)一步的分離，提高廢石的利用率。

本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案為：一種智能礦石分選機(jī)，包括控制組件，還包括連接有振動(dòng)給料機(jī)的輸送帶以及沿所述輸送帶的輸送方向依次設(shè)置的三維激光成像系統(tǒng)、第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)與第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述輸送帶的上方還設(shè)置有分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)，所述輸送帶、所述三維激光成像系統(tǒng)、所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)、所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及所述分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)均與所述控制組件電連接。

進(jìn)一步地，所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)為X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括鉛房以及設(shè)置于所述鉛房?jī)?nèi)的高頻恒壓X射線機(jī)。

進(jìn)一步地，所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)為X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括防護(hù)罩以及設(shè)置在所述防護(hù)罩內(nèi)的X射線源陣列與X熒光接收器陣列。

進(jìn)一步地，所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)為視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括工業(yè)相機(jī)、補(bǔ)光鏡以及背光鏡，所述工業(yè)相機(jī)設(shè)置在所述輸送帶的上方，所述背光鏡對(duì)應(yīng)設(shè)置在所述輸送帶的下方，所述補(bǔ)光鏡有若干個(gè)并設(shè)置在所述工業(yè)相機(jī)的周側(cè)。

本發(fā)明的有益效果有：本發(fā)明的智能礦石分選機(jī)采用三維激光成像系統(tǒng)對(duì)礦石的三維結(jié)構(gòu)進(jìn)行重建，能夠得到礦石的形狀信息，第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)便能夠結(jié)合礦石的形狀對(duì)礦石進(jìn)行精準(zhǔn)識(shí)別，不會(huì)漏識(shí)一些含有礦物質(zhì)較薄的礦石，提高礦石的檢測(cè)精度，增加合格礦石的產(chǎn)出，并且還結(jié)合第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)針對(duì)廢石中具有廣泛商業(yè)價(jià)值的石英也能夠與變質(zhì)巖進(jìn)行進(jìn)一步的識(shí)別分離，提高了廢石的利用率，提高原礦石整體的資源利用率，減少后期對(duì)廢石處理的復(fù)雜度，給企業(yè)增加效益。

附圖說(shuō)明

本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：

圖1是本發(fā)明其中一個(gè)實(shí)施例的示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

參照?qǐng)D1所示的一種智能礦石分選機(jī)，其包括控制組件，還包括連接有振動(dòng)給料機(jī)100的輸送帶500，沿輸送帶500的輸送方向還依次設(shè)置有三維激光成像系統(tǒng)300、第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400與第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)，該三維激光成像系統(tǒng)300設(shè)置于第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400前，輸送帶500的上方還設(shè)置有分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200，所述輸送帶500、所述三維激光成像系統(tǒng)300、所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400、所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及所述分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200均與所述控制組件電連接。

進(jìn)一步的，所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400為X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)，該X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括鉛房以及設(shè)置于所述鉛房?jī)?nèi)的高頻恒壓X射線機(jī)，鉛房能有效防護(hù)X射線，隔離X射線對(duì)人體的傷害，本實(shí)施例中所述X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)由單一的高頻恒壓X射線機(jī)產(chǎn)生連續(xù)的X射線能譜，X射線通過(guò)礦石中不同的元素衰減程度不同的原理，并結(jié)合三維激光重建，能夠準(zhǔn)確地將合格礦石和廢石識(shí)別出來(lái)。

進(jìn)一步的，所述第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400為X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括防護(hù)罩以及設(shè)置在防護(hù)罩內(nèi)的X射線源陣列于X熒光接收器陣列，具體的，X射線源陣列照射礦石，激發(fā)礦石表面礦元素的特征X射線，X熒光接收器接收光譜信息后并發(fā)送至控制組件進(jìn)行光譜分析，進(jìn)而將高品質(zhì)合格礦石、低品質(zhì)合格礦石和廢石識(shí)別出來(lái)。

進(jìn)一步的，所述第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)為視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，該第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)通常包括工業(yè)相機(jī)600、補(bǔ)光鏡700和背光鏡800，工業(yè)相機(jī)600設(shè)置在輸送帶500的上方，背光鏡800對(duì)應(yīng)設(shè)置在輸送帶500的下方，補(bǔ)光鏡700則由若干個(gè)并且設(shè)置在工業(yè)相機(jī)600的周側(cè)，通過(guò)視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)識(shí)別廢石中的石英與變質(zhì)巖，再由分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200將合格礦石、石英以及變質(zhì)巖分選至三個(gè)不同的分選倉(cāng)900。

進(jìn)一步的，所述分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200可以是由一排高速氣閥和噴嘴組成的閥島，用于將分選識(shí)別出來(lái)的高品質(zhì)合格礦石、低品質(zhì)合格礦石、石英以及變質(zhì)巖吹離至不同的分選倉(cāng)900；更進(jìn)一步的，該智能礦石分選機(jī)具有兩個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200，其中一個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200設(shè)置于第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400與第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)之間的區(qū)域，此時(shí)原礦經(jīng)過(guò)三維激光成像系統(tǒng)300以及第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400能夠準(zhǔn)確地將合格礦石與含有石英的廢石分別出來(lái)，并且此時(shí)可以先將合格礦石吹離輸送帶500，含有石英的廢石繼續(xù)隨輸送帶500輸送至第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)處，第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)準(zhǔn)確的分選識(shí)別出合格礦石、石英與變質(zhì)巖，此時(shí)再通過(guò)另外一個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200將合格礦石、石英與變質(zhì)巖分選至三個(gè)不同的分選倉(cāng)900；而在另外一個(gè)第一檢測(cè)系統(tǒng)為X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)的實(shí)施例中，X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)能夠準(zhǔn)確地將高品質(zhì)合格礦石、低品質(zhì)合格礦石和廢石識(shí)別出來(lái)，此時(shí)其中一個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200將高品質(zhì)合格礦石與低品質(zhì)合格礦石分選至兩個(gè)不同的分選倉(cāng)900，而含有石英的廢石繼續(xù)隨輸送帶500輸送至第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

上述所有實(shí)施例的工作流程是：原礦料先經(jīng)過(guò)振動(dòng)給料機(jī)100，振動(dòng)給料機(jī)100將礦石振散均勻化，再經(jīng)過(guò)輸送帶500將礦石單元化，增大每個(gè)礦石之間的間距，放置礦石重疊或者過(guò)于密集，礦石經(jīng)過(guò)輸送帶500輸送的過(guò)程中，先經(jīng)過(guò)三維激光成像系統(tǒng)300，三維激光成像系統(tǒng)300通過(guò)發(fā)射裝置發(fā)射激光，激光接觸到礦石后進(jìn)行反射，反射后的激光將反射回激光接收器中，便完成了對(duì)原礦石的掃描，礦石經(jīng)過(guò)三維激光成像后隨輸送帶500經(jīng)過(guò)第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400，在第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400為X射線檢測(cè)機(jī)構(gòu)的實(shí)施例中，X射線通過(guò)礦石中不同的元素衰減程度不同的原理，并結(jié)合三維激光重建，能夠準(zhǔn)確地將合格礦石和廢石識(shí)別出來(lái)，再通過(guò)其中一個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200將合格礦石吹離輸送帶500，剩余含有少量合格礦石、石英的廢石繼續(xù)隨輸送帶500輸送至第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)，通過(guò)第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)識(shí)別廢石中的石英與變質(zhì)巖，再由另外一個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200將合格礦石、石英以及變質(zhì)巖分選至三個(gè)不同的分選倉(cāng)900；而在第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400為X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)的實(shí)施例中，X熒光檢測(cè)機(jī)構(gòu)結(jié)合三維激光重建能夠準(zhǔn)確地將高品質(zhì)合格礦石、低品質(zhì)合格礦石和廢石識(shí)別出來(lái)，再通過(guò)其中一個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200將合格礦石吹離輸送帶500，剩余含有少量合格礦石、石英的廢石繼續(xù)隨輸送帶500輸送至第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)，通過(guò)第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)識(shí)別廢石中的石英與變質(zhì)巖，再由另外一個(gè)分選執(zhí)行機(jī)構(gòu)200將合格礦石、石英以及變質(zhì)巖分選至三個(gè)不同的分選倉(cāng)900。

需要說(shuō)明的是，上述所有實(shí)施例所述的控制組件均可以采用行業(yè)內(nèi)常規(guī)的設(shè)計(jì)與結(jié)構(gòu)，其通常包括可編程序控制器，使用者能夠預(yù)先設(shè)定判定值，控制組件接收到三維激光成像系統(tǒng)300、第一檢測(cè)機(jī)構(gòu)400與第二檢測(cè)機(jī)構(gòu)發(fā)送過(guò)來(lái)的檢測(cè)信息后，通過(guò)處理與比對(duì)后判定礦石是否合格或者是否屬于高品質(zhì)合格礦石、低品質(zhì)合格礦石與廢石，其中的信號(hào)處理與比對(duì)的具體實(shí)現(xiàn)方式在行業(yè)內(nèi)已是成熟的技術(shù)，在本實(shí)施例中不再贅述。

以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。

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