本申請公開了一種針對非均質儲層的測井解釋方法、裝置、電子設備及介質。該方法包括:針對目標層進行巖性識別,建立目標層單井連續(xù)巖性剖面;針對單井連續(xù)巖性剖面進行儲層識別,提取各類儲層的測井響應特征;計算每類儲層的孔隙度、滲透率與飽和度;根據孔隙度與流體類型針對儲層進行分類,獲得儲層類型?流體類型組合分類結果;分別進行電性曲線與儲層參數的兩兩交會,確定每一類儲層的電性與儲層參數界限值,建立多類型儲層測井解釋標準,進行未知井的單井測井解釋。本發(fā)明將測井測量原理與地質成因結合,通過對儲層巖石物理響應剖析,進行層層有效的儲層分類和計算模型轉換,提高儲層參數計算精度、儲層類型和流體識別率。
聲明:
“針對非均質儲層的測井解釋方法、裝置、電子設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)