本發(fā)明涉及繪圖數(shù)據(jù)處理技術(shù),目的是為了解決在少量地質(zhì)點(diǎn)且地形復(fù)雜的情況下,現(xiàn)場(chǎng)勾繪的地質(zhì)平面圖中巖層界線、結(jié)構(gòu)面跡線精度較低的問(wèn)題。該方法具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程如下:首先,選取結(jié)構(gòu)面出露地質(zhì)點(diǎn)并測(cè)量其坐標(biāo),根據(jù)出露點(diǎn)坐標(biāo)確定結(jié)構(gòu)面產(chǎn)狀,之后用戶輸入地質(zhì)點(diǎn)坐標(biāo)后,系統(tǒng)通過(guò)該地質(zhì)點(diǎn)沿結(jié)構(gòu)面走向做第一輔助線。其次,背離傾向,做走向線的平行線,平行線間距為其中△H為等高線高差,β為結(jié)構(gòu)面傾角。然后,根據(jù)等高線高程升高方向,確定等高線與第一輔助線的交點(diǎn)。最后,與傾向同向做走向線平行輔助線,平行輔助線間距與所述平行線間距相同,根據(jù)等高線高程降低方向,確定等高線與平行輔助線的交點(diǎn),并連線,刪除第一輔助線及平行輔助線。
聲明:
“基于結(jié)構(gòu)面產(chǎn)狀及地質(zhì)點(diǎn)坐標(biāo)繪制地質(zhì)平面圖的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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