本發(fā)明屬于電離輻射計(jì)量技術(shù),具體涉及一種混合核素γ點(diǎn)源體積樣品效率刻度方法。該方法采用固體混和核素γ點(diǎn)源在探測(cè)器周圍的測(cè)量結(jié)果,并結(jié)合蒙特卡羅模擬計(jì)算,確定探測(cè)器對(duì)任意軸對(duì)稱形狀體積樣品的探測(cè)效率。本發(fā)明通過混合核素γ點(diǎn)源在探測(cè)器周圍的測(cè)量結(jié)果,可確定體積樣品探測(cè)效率曲線。進(jìn)而在保證刻度結(jié)果量值溯源性的前提下,避免了其它刻度方法(例如標(biāo)準(zhǔn)體積樣品刻度)所帶來的制作工藝復(fù)雜、放射性廢物的產(chǎn)生等問題。
聲明:
“混合核素γ點(diǎn)源體積樣品效率刻度方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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