本發(fā)明公開的一種廢舊半導(dǎo)體儲(chǔ)存器檢測(cè)回收系統(tǒng)及其使用方法，包括工作臺(tái)，所述工作臺(tái)內(nèi)設(shè)有開口朝上的回收腔，所述工作臺(tái)內(nèi)設(shè)有位于所述回收腔左側(cè)的，所述工作臺(tái)上設(shè)有閃存顆粒拆解機(jī)構(gòu)，所述工作臺(tái)上設(shè)有位于所述閃存顆粒拆解機(jī)構(gòu)右側(cè)的閃存顆粒檢測(cè)篩分機(jī)構(gòu)，所述閃存顆粒檢測(cè)篩分機(jī)構(gòu)用于檢測(cè)閃存顆粒，并對(duì)能正常工作的所述閃存顆粒和損壞的所述閃存顆粒進(jìn)行分類儲(chǔ)存，所述閃存顆粒拆解機(jī)構(gòu)通過加熱使所述閃存顆粒與廢舊手機(jī)主板脫離，本發(fā)明能自動(dòng)回收檢測(cè)手機(jī)上的閃存顆粒，并對(duì)閃存顆粒進(jìn)行檢測(cè)分類回收，自動(dòng)化程度較高，處理效率較高，降低對(duì)人員依賴性，且能降低廢氣對(duì)人員和環(huán)境的危害程度。