本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種性能檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備。其中方法包括:通過(guò)基于預(yù)設(shè)檢測(cè)項(xiàng)對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行性能檢測(cè),獲取到至少一項(xiàng)異常檢測(cè)項(xiàng);進(jìn)一步的,電子設(shè)備確定至少一項(xiàng)異常檢測(cè)項(xiàng)中各項(xiàng)異常檢測(cè)項(xiàng)的評(píng)分區(qū)間和扣分權(quán)重;從而,電子設(shè)備可根據(jù)各項(xiàng)異常檢測(cè)項(xiàng)的評(píng)分區(qū)間和扣分權(quán)重輸出性能檢測(cè)結(jié)果,采用本發(fā)明實(shí)施例實(shí)現(xiàn)了根據(jù)異常檢測(cè)項(xiàng)對(duì)電子設(shè)備性能的危害程度和異常檢測(cè)項(xiàng)對(duì)應(yīng)的評(píng)分區(qū)間,對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行安全性能檢測(cè),提高了性能檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
聲明:
“一種性能檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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