本發(fā)明公開了一種光纖扭轉(zhuǎn)性能檢測(cè)設(shè)備及其檢測(cè)方法,涉及光纖技術(shù)領(lǐng)域,為解決現(xiàn)有在對(duì)光纖進(jìn)行性能檢測(cè)時(shí)存在過程復(fù)雜且不易操作,導(dǎo)致檢測(cè)時(shí)間過長(zhǎng)增加生產(chǎn)時(shí)間降低效率的問題。底座上端設(shè)置有第一擋板,第一擋板前端設(shè)置有第一扭轉(zhuǎn)桿,底座上端設(shè)置有第二擋板,第一擋板前端設(shè)置有轉(zhuǎn)桿、第二扭轉(zhuǎn)桿、第三扭轉(zhuǎn)桿和第四扭轉(zhuǎn)桿,第一擋板上端設(shè)置有支架,支架下端設(shè)置有探測(cè)頭,第一擋板后端設(shè)置有顯示屏,第一擋板內(nèi)設(shè)置有多個(gè)第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)和控制器,底座上表面開設(shè)有滑槽,滑槽與第二擋板活動(dòng)連接。
聲明:
“一種光纖扭轉(zhuǎn)性能檢測(cè)設(shè)備及其檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)