本申請公開了一種斷路器性能檢測方法、裝置、設備及計算機存儲介質。斷路器性能檢測方法,包括:采集在斷路器分閘或合閘的過程中,目標部件的初始運動數(shù)據(jù);其中,目標部件為斷路器所包括的動觸頭或者與動觸頭聯(lián)動的部件,初始運動數(shù)據(jù)包括P個初始轉速數(shù)據(jù),P為大于1的整數(shù);從P個初始轉速數(shù)據(jù)中確定出Q個目標轉速數(shù)據(jù),目標轉速數(shù)據(jù)為P個初始轉速數(shù)據(jù)中的最值、局部極值或者等于預設轉速數(shù)據(jù)的初始轉速數(shù)據(jù),Q為大于1且小于或等于P的整數(shù);根據(jù)Q個目標轉速數(shù)據(jù),檢測斷路器性能。本申請實施例避免了采用人工對斷路器的機械性能定期檢測所帶來的費時費力的問題,且有助于及時發(fā)現(xiàn)斷路器性能衰減的情況,保證斷路器工作的可靠性。
聲明:
“斷路器性能檢測方法、裝置、設備及計算機存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)