本申請涉及一種續(xù)流二極管的性能檢測裝置。所述性能檢測裝置包括供電電源、整流晶體管、并聯(lián)支路、待檢測續(xù)流二極管、處理電路以及負(fù)載電路;供電電源通過晶體管與負(fù)載電路之間形成第一通路,用于在晶體管導(dǎo)通的情況下對負(fù)載電路供電,以由第一通路產(chǎn)生勵磁電流;并聯(lián)支路和待檢測續(xù)流二極管并聯(lián),用于對勵磁電流進(jìn)行分流;處理電路,用于獲取分流結(jié)果,并根據(jù)分流結(jié)果確定待檢測續(xù)流二極管的性能參數(shù)。采用本裝置能夠?qū)m(xù)流二極管的性能進(jìn)行檢測。
聲明:
“續(xù)流二極管的性能檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)