本申請(qǐng)公開一種電源性能檢測(cè)裝置。電源性能檢測(cè)裝置包括處理器、第一延時(shí)電路、電壓采集電路、第二延時(shí)電路、驅(qū)動(dòng)電路和模擬負(fù)載電路；處理器分別與所述第一延時(shí)電路、所述第二延時(shí)電路連接，用于輸出第一測(cè)量信號(hào)給第一延時(shí)電路，輸出第二測(cè)量信號(hào)給第二延時(shí)電路；第一延時(shí)電路與電壓采集電路連接，電壓采集電路用于接收第一測(cè)量信號(hào)后采集通信模塊的電源瞬態(tài)電壓，并發(fā)送給處理器；第二延時(shí)電路與驅(qū)動(dòng)電路、模擬負(fù)載電路依次連接，模擬負(fù)載電路與電源瞬態(tài)電壓連接，驅(qū)動(dòng)電路用于驅(qū)動(dòng)模擬負(fù)載電路產(chǎn)生模擬負(fù)載電流。本申請(qǐng)通過(guò)對(duì)電源瞬態(tài)電壓以及模擬負(fù)載電流進(jìn)行分析，可以得出模塊電源是否老化以及老化的程度等。