本實(shí)用新型提供一種光學(xué)性能檢測(cè)光路,包括入射端連接有第一光纖的第一準(zhǔn)直透鏡、用于將第一準(zhǔn)直透鏡出射的自然光光束分開為P光光束和S光光束的第一晶體、設(shè)置在P光光束和S光光束的下游光路上的帶通濾光器、設(shè)置在帶通濾光器的透射光路徑上的第二晶體、設(shè)在第二晶體的出射光下游路徑上且出射端連接有第二光纖的第二準(zhǔn)直透鏡、用于檢測(cè)第二光纖的出射光的光電探測(cè)器、第一半波片、第二半波片。本實(shí)用新型提供的光學(xué)性能檢測(cè)光路,利用兩個(gè)雙折射晶體、一個(gè)帶通濾光器和兩個(gè)半波片來實(shí)現(xiàn)低損耗傳播的目的,能夠提高檢測(cè)光路的檢測(cè)精度且能夠通過轉(zhuǎn)動(dòng)帶通濾光器達(dá)到檢測(cè)不同波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的光功率的目的。
聲明:
“一種光學(xué)性能檢測(cè)光路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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