本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種用于光模塊的雪崩光電二極管APD性能檢測(cè)方法、裝置、光網(wǎng)絡(luò)及介質(zhì)。該用于光模塊的APD性能檢測(cè)方法,適用于包括光模塊和光網(wǎng)絡(luò)單元ONU的光網(wǎng)絡(luò),所述方法包括:選取至少一個(gè)光網(wǎng)絡(luò)單元標(biāo)識(shí)ONU ID作為檢測(cè)ONU ID;為所述檢測(cè)ONU ID分配帶寬并且所述帶寬使能;獲取所述光模塊對(duì)于所述檢測(cè)ONU ID的接收光功率;基于所述接收光功率判斷所述光模塊中APD的性能是否劣化,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)光模塊的APD出現(xiàn)劣化,減小APD性能劣化對(duì)光網(wǎng)絡(luò)正常運(yùn)行的影響。
聲明:
“用于光模塊的APD性能檢測(cè)方法、裝置、光網(wǎng)絡(luò)及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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