本發(fā)明公開了一種光傳感器的性能檢測(cè)方法,包括:利用表現(xiàn)出至少一個(gè)特征輻射的固有放射性的閃爍元件產(chǎn)生本底輻射,所述閃爍元件響應(yīng)于所述本底輻射產(chǎn)生閃爍光;利用光傳感器產(chǎn)生與所述閃爍光的光量相應(yīng)的脈沖狀電信號(hào);根據(jù)來(lái)自所述光傳感器的電信號(hào)生成單事件數(shù)據(jù),累積獲取所述光傳感器上的單事件計(jì)數(shù);將所述光傳感器上的單事件計(jì)數(shù)與預(yù)設(shè)閾值比較,確定所述光傳感器的性能是否符合要求。本發(fā)明使用無(wú)源性能檢測(cè)方法來(lái)檢測(cè)PET設(shè)備中光傳感器的工作狀態(tài)。醫(yī)院技師在不接觸放射源的情況下,即可對(duì)設(shè)備性能進(jìn)行檢測(cè),方法簡(jiǎn)單、易操作。
聲明:
“光傳感器的性能檢測(cè)方法和醫(yī)學(xué)成像設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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