本實(shí)用新型公開(kāi)了一種移相器電性能檢測(cè)臺(tái)，包括相對(duì)設(shè)置的第一精密滑臺(tái)和第二精密滑臺(tái)以及兩者之間設(shè)置的檢測(cè)臺(tái)，第一精密滑臺(tái)和第二精密滑臺(tái)下表面通過(guò)滑塊和相應(yīng)的導(dǎo)軌滑動(dòng)連接；所述的第一精密滑臺(tái)上表面通過(guò)基座連接第一測(cè)試接頭，第二精密滑臺(tái)上表面通過(guò)基座連接第二測(cè)試接頭；所述的第一測(cè)試接頭和第二測(cè)試接頭上均設(shè)有用于接入待測(cè)單元的測(cè)試端口，兩個(gè)所述的測(cè)試端口均為基準(zhǔn)孔且相對(duì)設(shè)置。本實(shí)用新型通過(guò)相對(duì)設(shè)置精密滑臺(tái)，使得測(cè)試位置可以自行調(diào)節(jié)，滿足移相器與接口的位置要求，并且在精密滑臺(tái)上設(shè)置用多頭的測(cè)試接頭，以便接上測(cè)試電纜對(duì)移相器進(jìn)行檢測(cè)，和以往相比，避免了對(duì)線路板多次焊接拆卸而造成測(cè)移相器的損傷。