本實用新型屬于光學(xué)檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種多光譜光學(xué)性能
檢測儀,包括升降機構(gòu)、旋轉(zhuǎn)機構(gòu)以及多光譜平行管,所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)水平設(shè)置在所述升降機構(gòu)上,所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)上設(shè)有所述多光譜平行管;所述多光譜平行管的一端部設(shè)有可變光闌,與所述可變光闌相對位置的多光譜平行管的另一端部設(shè)有共軛半透半反射鏡,在所述可變光闌的側(cè)部設(shè)有次鏡,在所述共軛半透半反射鏡的共軛位置分別設(shè)有目標(biāo)源和探測器,在所述目標(biāo)源的側(cè)部設(shè)有主鏡;本實用新型采用反射式的平行光管結(jié)構(gòu),采用不同光源照射,形成不同波長的平行光;同時在半透半反鏡的共軛位置分別安裝目標(biāo)源和不同波長的探測器,通過改變不同光譜的發(fā)射能量來測試設(shè)備的靈敏度。
聲明:
“一種多光譜光學(xué)性能檢測儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)