本發(fā)明公開一種耳機本體抗干擾性能檢測裝置及其檢測方法,屬于耳機檢測技術領域,包括底座,底座上設有對耳機進行晃動調節(jié)的調節(jié)機構,調節(jié)機構的頂端上設有對耳機進行固定的第一固定機構,底座上位于第一固定機構的一側上設有兩個第一電控伸縮柱,第一電控伸縮柱的頂端上設有干擾源,底座上位于第一固定機構的另一側上設有滑槽,滑槽內滑動連接有滑動塊,滑動塊的頂端設有第二電控伸縮柱,第二電控伸縮柱的頂端設有放置臺,放置臺上設有對手機進行固定的第二固定機構;本發(fā)明通過設有的調節(jié)機構,可帶動耳機在晃動的同時進行輕微的震動,可更加真實的模擬出耳機在使用時的環(huán)境,從而提高檢測的準確率。
聲明:
“一種耳機本體抗干擾性能檢測裝置及其檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)