本發(fā)明涉及一種通過光激發(fā)增強(qiáng)電流注入LED電致發(fā)光性能檢測(cè)系統(tǒng),檢測(cè)系統(tǒng)包括激發(fā)光源、外部電源、電極板、電介質(zhì)層、待測(cè)的LED器件以及光參數(shù)探測(cè)系統(tǒng),波長低于LED
芯片發(fā)光波長的激發(fā)光源輻照在LED器件上,外部電源與電極板相連接并提供脈沖電壓施加到電極板,電極板通過電介質(zhì)層與LED器件的P型層、陽極或N型層即陰極接觸以實(shí)現(xiàn)電容性和電導(dǎo)性電流注入,通過激發(fā)光源增加注入電流轉(zhuǎn)化成載流子比例,以增強(qiáng)LED的電致發(fā)光性能;光參數(shù)探測(cè)系統(tǒng)主要由光學(xué)器件、光譜儀和探測(cè)器組成,同時(shí)采集LED光電性能,包括LED器件發(fā)光的亮度、波長和角分布。該檢測(cè)系統(tǒng)有利于對(duì)LED外延片或LED芯片的光電性能進(jìn)行非接觸、快速檢測(cè)。
聲明:
“通過光激發(fā)增強(qiáng)電流注入LED電致發(fā)光性能檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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