一種清晰顯示低碳低合金鋼奧氏體晶粒的方法,屬物理檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。用于解決低碳低合金鋼尚無法清晰顯示其奧氏體晶粒的問題。本方法包括淬火過程和腐蝕過程,特別之處是:所述腐蝕過程中腐蝕劑配比如下:CrO3 8g~10g,NaOH 40g~50g,苦味酸1.6g~2g,環(huán)氧乙烷2ml~4ml,蒸餾水80ml~100ml。本發(fā)明采用特定的腐蝕劑配以合適的腐蝕方法,可以清晰地顯示出奧氏體晶界,該方法填補(bǔ)了碳低合金鋼奧氏體晶界顯示技術(shù)的空白,為生產(chǎn)企業(yè)研究該類鋼變形過程中工藝參數(shù)對(duì)組織演變的影響提供重要的理論依據(jù),對(duì)生產(chǎn)碳低合金鋼合理控制工藝參數(shù)和保證產(chǎn)品性均可起到重要作用。
聲明:
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