本發(fā)明涉及一種中碳微合金鋼高溫形變條件下奧氏體晶界顯示的方法。屬于物理檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。步驟為:試樣制備:高溫變形后立即淬火,經(jīng)粗磨、細(xì)磨、拋光,將拋光好的試樣放入45℃的腐蝕劑中,腐蝕劑配方為:自來水60ml、苦味酸1.2~1.6g,洗發(fā)膏0.4~0.5g,二甲苯0.04~0.06ml,鹽酸0.08~0.12ml,氫氟酸0.06~0.1ml,氯化銅8~10mg;腐蝕1~2min后,待試樣表面變暗時(shí)取出,用酒精洗凈,吹干;在顯微鏡下就可觀察到較為清晰的原始奧氏體晶粒。此發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于解決了中碳微合金鋼高溫形變條件下無法清晰顯示其奧氏體晶粒的問題,此發(fā)明實(shí)施簡(jiǎn)單、操作方便。
聲明:
“中碳微合金鋼高溫形變條件下奧氏體晶界顯示的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)