一種低碳鋼淬火態(tài)原奧氏體晶界的顯示方法,屬于鋼中原奧氏體晶界的物理檢測技術(shù)領(lǐng)域。具體步驟及參數(shù)為:首先準備樣品,樣品為低碳鋼淬火態(tài)試樣,C≤0.1wt%,獲得的拋光表面進行面掃描;電鏡參數(shù)設(shè)置為加速電壓15kV~20kV等;掃描參數(shù)的設(shè)置中步長的設(shè)置原則是不大于平均晶粒尺寸的十分之一;面掃描結(jié)束后數(shù)據(jù)結(jié)果進行處理,通過對馬氏體板條束與原奧氏體的晶界取向差進行分析,得到晶界取向差取值范圍為20~50°,由此計算出原奧氏體晶粒的尺寸。優(yōu)點在于,通過本方法準確的計算出原奧氏體晶粒的尺寸,為研究相變過程中的組織演變提供重要理論依據(jù)。
聲明:
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