本發(fā)明公開(kāi)了一種磁屏蔽
檢測(cè)儀,包括:屏蔽箱體、信號(hào)檢測(cè)儀、信號(hào)發(fā)生器和發(fā)射天線(xiàn),所述被測(cè)件和所述信號(hào)檢測(cè)儀設(shè)于所述屏蔽箱體內(nèi),所述信號(hào)發(fā)生器設(shè)于所述屏蔽箱體外,所述發(fā)射天線(xiàn)貫穿被測(cè)件后通過(guò)同軸電纜連接所述信號(hào)發(fā)生器,所述信號(hào)檢測(cè)儀用于獲取所述發(fā)射天線(xiàn)發(fā)出的信號(hào)。本發(fā)明通過(guò)將發(fā)射天線(xiàn)設(shè)于被測(cè)件的內(nèi)部,再用同軸電纜將發(fā)射天線(xiàn)與信號(hào)發(fā)生器連接,信號(hào)檢測(cè)儀檢測(cè)被測(cè)件內(nèi)部的發(fā)射天線(xiàn)發(fā)出的電磁信號(hào),從而直接檢測(cè)被測(cè)件的磁屏蔽性能,由于磁屏蔽材料是沒(méi)有方向性的,發(fā)射天線(xiàn)做得很微小,因而磁屏蔽檢測(cè)儀既可以對(duì)小件元器件直接進(jìn)行磁屏蔽性能檢測(cè),也能對(duì)大件元器件直接進(jìn)行磁屏蔽性能檢測(cè)。
聲明:
“一種磁屏蔽檢測(cè)儀” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)