本發(fā)明公開了一種低維光電材料的性能測試裝置,涉及光電材料檢測技術領域,解決了現(xiàn)有裝置未設置可以對
多晶硅薄膜進行彎折疲勞度檢測的結構的問題。一種低維光電材料的性能測試裝置,包括工作臺;所述工作臺頂部固定連接有控制部;所述工作臺頂部右側固定連接有穩(wěn)定臺,穩(wěn)定臺頂部通過鉸連接設置有往復絲桿;所述工作臺頂部左側固定連接有遮光箱,遮光箱內部設置有光電轉換性能檢測機構;通過控制往復絲桿持續(xù)轉動,可以控制兩組立架進行相反方向的往復平移,可以使多晶硅薄膜進行往復彎折,通過控制部實時監(jiān)測薄膜電流情況,可以對多晶硅薄膜進行彎折疲勞度檢測。
聲明:
“一種低維光電材料的性能測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)