本發(fā)明公開了一種集成電路IO特性智能測試儀,其特點是該測試儀由單片機、可調(diào)電源模塊、LCD觸摸顯示模塊、繼電器模塊和電流檢測模塊組成,將待檢測
芯片串接在繼電器模塊和電流檢測模塊之間,對芯片的ESD二極管進行性能檢測,所述單片機與可調(diào)電源模塊、LCD觸摸顯示模塊、繼電器模塊和電流檢測模塊連接;所述電流檢測模塊與可調(diào)電源模塊連接;所述繼電器模塊采用117路繼電器連接八個4轉(zhuǎn)16譯碼器。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有測試誤差小,防止信號串擾,有效避免電源倒灌,測試方便,降低測試過程中誤操作對芯片造成的危害。
聲明:
“一種集成電路IO特性智能測試儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)