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一種檢測硬盤IOPS性能的方法及裝置

677   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 06:27:32
本發(fā)明提供了一種檢測硬盤IOPS性能的方法及裝置,應用于Linux系統(tǒng),該方法包括:確定計算機中需要進行IOPS性能檢測的至少一個目標硬盤,并設定對各個所述目標硬盤進行訪問的訪問形式;根據(jù)所述訪問形式,依次對各個所述目標硬盤進行讀操作或?qū)懖僮鳎粚λ鲎x操作或?qū)懖僮鬟^程進行監(jiān)控,形成對應的記錄文件;根據(jù)所述記錄文件,獲取各個所述目標硬盤對應的IOPS數(shù)據(jù)。該裝置包括:設定單元、檢測單元、監(jiān)控單元及提取單元。本方案能夠提高對硬盤IOPS性能進行測試的效率。
聲明:
“一種檢測硬盤IOPS性能的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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