本發(fā)明提出了一種
芯片自動化檢測方法和裝置,所述方法包括:在機械手將托盤從上料區(qū)移動至下料區(qū)的過程中,進行絲印ID檢測、外觀檢測和性能檢測;通過絲印ID檢測進行絲印ID的獲取,在性能測試時獲取芯片ID;然后將絲印ID和芯片ID結合來鎖定具體的芯片,即綁定后的絲印ID和芯片ID可以作為芯片的唯一身份標識,從而基于芯片的唯一身份標識可以將芯片的外觀檢測結果和性能測試結果進行整合,便于用戶或檢測管理人員快速了解具體芯片的整體狀況,分類結果更精準。
聲明:
“一種芯片自動化檢測方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)