本發(fā)明屬于材料性能測試領域,涉及一種基于氧化鋅微米線的原位彎曲下力電性能測試方法。其特征是將單根氧化鋅微米線的一端用銀膠固定在表面有絕緣膜的單晶硅基底上,另一端用探針撥動實現(xiàn)彎曲;在彎曲的同時,通過在探針和銀膠間加掃描電壓信號,實現(xiàn)對其電學性能的原位實時測量。本發(fā)明的優(yōu)點在于:將環(huán)境平臺與吉時利4200這兩種儀器有機結合,實現(xiàn)了對單根氧化鋅力電性能的檢測,其操作簡便,實時性強,而且應用范圍廣泛,便于多種一維結構微納材料的力電性能檢測。
聲明:
“一種基于氧化鋅微米線的原位彎曲下力電性能測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)