本發(fā)明屬于航空材料性能檢測(cè)領(lǐng)域,涉及一種壓電晶片諧振頻率測(cè)定方法。本方法采用短時(shí)高壓脈沖法對(duì)壓電晶片進(jìn)行激勵(lì),壓電晶片發(fā)生響應(yīng)振動(dòng),高壓脈沖為寬頻激勵(lì),壓電晶片的振動(dòng)為選擇性響應(yīng),其振動(dòng)頻率即為其諧振頻率。本方法采用純時(shí)域算法,直接簡(jiǎn)便,干擾因素少,精度高。一定形狀的壓電晶片對(duì)應(yīng)不止一個(gè)諧振頻率,例如圓形晶片,有高頻的厚度模振動(dòng)諧振頻率和低頻的徑向模諧振頻率,本發(fā)明提供的方法可以全面測(cè)定不同方向模振動(dòng)的諧振頻率。
聲明:
“一種壓電晶片諧振頻率測(cè)定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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