本發(fā)明的實(shí)施例公開(kāi)一種檢測(cè)電子設(shè)備卡頓的方法、裝置及電子設(shè)備，涉及電子設(shè)備性能檢測(cè)技術(shù)，無(wú)需用戶退出正在使用的軟件，再進(jìn)行卡頓的檢測(cè)。所述檢測(cè)電子設(shè)備卡頓的方法包括：在監(jiān)測(cè)到應(yīng)用程序啟動(dòng)時(shí)，調(diào)用預(yù)先安裝在所述應(yīng)用程序的界面中的清理應(yīng)用程序檢測(cè)并得到電子設(shè)備運(yùn)行參數(shù)；查詢預(yù)先存儲(chǔ)的電子設(shè)備參數(shù)與電子設(shè)備優(yōu)化策略的映射關(guān)系集，獲取所述電子設(shè)備運(yùn)行參數(shù)映射的電子設(shè)備優(yōu)化策略；按照所述電子設(shè)備運(yùn)行參數(shù)映射的電子設(shè)備優(yōu)化策略對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行優(yōu)化。本發(fā)明適用于對(duì)電子設(shè)備運(yùn)行進(jìn)行優(yōu)化。