本申請(qǐng)涉及一種光學(xué)材料檢測(cè)裝置及其對(duì)光學(xué)材料的檢測(cè)方法,涉及檢測(cè)裝置的領(lǐng)域,一種光學(xué)材料檢測(cè)裝置包括基座、光源和檢測(cè)組件,基座上豎直設(shè)置有若干個(gè)檢測(cè)樣片,若干個(gè)檢測(cè)樣片正對(duì)設(shè)置,檢測(cè)樣片的兩端與基座之間均設(shè)置有固定組件,固定組件用于使不同厚度的檢測(cè)樣片與基座固定連接,光源位于若干個(gè)檢測(cè)樣片之間,且位于若干個(gè)檢測(cè)樣片的一端,光源用于發(fā)出有色光線,光源與基座之間設(shè)置有第一調(diào)節(jié)組件,第一調(diào)節(jié)組件用于調(diào)節(jié)光源對(duì)檢測(cè)樣片的照射角度,檢測(cè)組件用于對(duì)檢測(cè)樣片的光學(xué)反射、透射、吸收性能進(jìn)行檢測(cè)。本申請(qǐng)具有使用一種檢測(cè)裝置易于對(duì)光學(xué)材料進(jìn)行多種性能檢測(cè)的效果。
聲明:
“一種光學(xué)材料檢測(cè)裝置及其對(duì)光學(xué)材料的檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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