本發(fā)明涉及電子領域,公開了電測與PIN針歪斜檢測機構及檢測方法,包括安裝板,還包括探針固定板和安裝在探針固定板上的探針固定件,所述探針固定件上安裝有PIN針歪斜檢測件,所述PIN針歪斜檢測件上設置有檢測孔,所述檢測孔內設置有通電檢測針,還包括與通電檢測針連接的通電檢測裝置,還包括固定在安裝板上用于驅動探針固定板向前運動的驅動機構,本結構可實現(xiàn)將通電性能檢測與PIN針歪斜檢測合二為一,使得本結構具有結構簡單,使用成本低,效率高的特點。
聲明:
“電測與PIN針歪斜檢測機構及檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)