本實用新型涉及性能測試技術(shù)領(lǐng)域,提供一種測試裝置包括:殼體,具有測試空腔;安置部,設(shè)置于測試空腔中,且安置部具有用于安置待測試可發(fā)光器件的安置位;性能檢測器,設(shè)置于測試空腔中,以用于檢測待測試可發(fā)光器件的性能;第一溫度傳感器,設(shè)置于測試空腔中,以用于檢測待測試可發(fā)光器件處的溫度;以及降溫器,設(shè)置于測試空腔中或者與測試空腔連通,以用于在第一溫度傳感器所檢測的溫度高于預(yù)設(shè)值時對測試空腔進(jìn)行降溫。本實用新型提供的測試裝置,可在溫度高于預(yù)設(shè)值時對測試空腔進(jìn)行降溫,避免待測試可發(fā)光器件產(chǎn)生的熱量積聚于測試空腔中,從而提高對待測試可發(fā)光器件性能測試的準(zhǔn)確性。
聲明:
“測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)