本申請(qǐng)屬于光學(xué)遙感器系統(tǒng)性能檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于光學(xué)系統(tǒng)豎直狀態(tài)系統(tǒng)波像差測(cè)試的立式檢測(cè)系統(tǒng)，包括：桁架主體、二維平移調(diào)整臺(tái)、平面反射鏡組件，所述桁架主體用于承載二維平移調(diào)整臺(tái)和所述平面反射鏡組件；所述二維平移調(diào)整臺(tái)安裝在所述桁架主體的上端，所述平面反射鏡組件安裝在所述二維平移調(diào)整臺(tái)上，所述平面反射鏡組件用于反射光學(xué)系統(tǒng)射出的平行光，所述二維平移調(diào)整臺(tái)帶動(dòng)所述平面反射鏡實(shí)現(xiàn)二維平移運(yùn)動(dòng)。實(shí)現(xiàn)了大口徑光學(xué)系統(tǒng)豎直狀態(tài)的光路自準(zhǔn)直，檢測(cè)多個(gè)子孔徑的系統(tǒng)波像差，繼而拼接獲取全口徑的系統(tǒng)波像差，完成光學(xué)系統(tǒng)豎直極限工況下的系統(tǒng)像質(zhì)測(cè)試，有效解決了以往只能用仿真實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證的問(wèn)題。