本申請實(shí)施例公開了一種顯示屏的檢測方法、裝置及存儲介質(zhì),其中,本申請實(shí)施例提供的方法包括:采集顯示屏的出射光信息;對出射光信息進(jìn)行光譜分析,得到顯示屏的第一光譜分布;基于第一光譜分布確定顯示屏的目標(biāo)性能。通過分析顯示屏的光譜分布,進(jìn)而通過光譜分布對顯示屏的性能進(jìn)行檢測,以提高對顯示屏性能檢測的準(zhǔn)確度。
聲明:
“顯示屏的檢測方法、裝置及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)