本發(fā)明涉及一種光學(xué)檢測方法,具體涉及一種基于成像高光譜技術(shù)的多功能光學(xué)面板檢測方法。設(shè)備包括發(fā)光面板、樣品臺、成像光譜儀和計算機(jī),發(fā)光面板整體亮度是評價光學(xué)面板性能的關(guān)鍵指標(biāo),其異常點檢測也有助于保障產(chǎn)品生產(chǎn)品控。通過采用成像高光譜技術(shù)對發(fā)光面板進(jìn)行掃描,可以獲得空間位置的每個點的發(fā)光亮度和整體的精確亮度。本發(fā)明可實現(xiàn)任意尺寸發(fā)光面板的整體或局部位置的精確亮度測量,有助于實現(xiàn)在線快速發(fā)光面板性能檢測及故障評估。
聲明:
“一種發(fā)光面板多功能檢測方法及設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)