本實(shí)用新型揭示了一種卡槽測(cè)試裝置,包括第一T卡卡槽、第一SIM卡卡槽和連接頭;連接頭包括T卡接觸端子以及SIM卡接觸端子,T卡接觸端子與被檢測(cè)的第二T卡卡槽相匹配,SIM卡接觸端子與被檢測(cè)的第二SIM卡卡槽相匹配;T卡接觸端子與第一T卡卡槽電連接;SIM卡接觸端子與第一SIM卡卡槽電連接。本實(shí)用新型卡槽測(cè)試裝置的連接頭能夠一次性連接手機(jī)上的第二SIM卡卡槽和第二T卡卡槽,能夠一次性檢測(cè)接觸性能,檢測(cè)效率更高。
聲明:
“卡槽測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)