本發(fā)明提供了一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法及裝置,所述方法包括以下步驟:(1)調(diào)用模數(shù)轉(zhuǎn)換子程序及IIC協(xié)議,讀取觸點(diǎn)輸入電壓;(2)判斷繼電器輸出命令,選擇數(shù)字量范圍;(3)判斷數(shù)字量回檢輸入是否正常,若是,測(cè)試次數(shù)減1,繼電器輸出命令取反,并執(zhí)行下一步,若否,調(diào)用報(bào)警子程序;(4)調(diào)用顯示子程序,控制顯示模塊顯示設(shè)置及測(cè)試次數(shù),并返回到步驟(1)重新執(zhí)行。本發(fā)明提供的一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法和裝置,其能對(duì)繼電器的勵(lì)磁性能進(jìn)行檢測(cè)。
聲明:
“一種基于單片機(jī)的密封性繼電器性能測(cè)試方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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