本公開涉及一種測(cè)試方法、系統(tǒng)、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備。所述測(cè)試系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)管理層模塊、業(yè)務(wù)層模塊和檢測(cè)層模塊;所述數(shù)據(jù)管理層模塊用于獲取目標(biāo)程序的目標(biāo)協(xié)議文件,并反射出與獲取到的目標(biāo)協(xié)議文件對(duì)應(yīng)的測(cè)試模擬數(shù)據(jù),所述目標(biāo)程序?yàn)樾铚y(cè)試的應(yīng)用程序;所述業(yè)務(wù)層模塊用于觸發(fā)所述目標(biāo)程序執(zhí)行與所述測(cè)試模擬數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的目標(biāo)業(yè)務(wù)邏輯;所述檢測(cè)層模塊用于在所述目標(biāo)程序執(zhí)行所述目標(biāo)業(yè)務(wù)邏輯的過程中,對(duì)所述目標(biāo)程序的表現(xiàn)進(jìn)行監(jiān)測(cè)。
聲明:
“測(cè)試方法、系統(tǒng)、可讀介質(zhì)及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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