本發(fā)明公開了一種亂序高性能核的混合分支預(yù)測裝置及方法,涉及計(jì)算機(jī)分支預(yù)測領(lǐng)域。該裝置能夠進(jìn)行處理器微體系結(jié)構(gòu)級的性能評估,減輕因分支預(yù)測失敗、缺失指令所導(dǎo)致的亂序高性能處理器重命名阻塞;該裝置提供一種高精度、且參數(shù)化靈活可配的混合分支預(yù)測器,由全局歷史信息分支TAGE預(yù)測器、統(tǒng)計(jì)校正預(yù)測器和循環(huán)預(yù)測器組成;所述TAGE預(yù)測器利用參數(shù)化的Tagged部件及分體讀取改進(jìn)策略,實(shí)現(xiàn)高精度分支預(yù)測,并減少訪問沖突;所述統(tǒng)計(jì)校正預(yù)測器用于根據(jù)TAGE預(yù)測器的預(yù)測結(jié)果和置信度,確認(rèn)或還原TAGE預(yù)測器的預(yù)測結(jié)果;所述循環(huán)預(yù)測器用于利用替換策略和循環(huán)分支折合技術(shù),預(yù)測具有長循環(huán)主體的規(guī)則循環(huán)。該發(fā)明充分利用有限的硬件存儲開銷,極大程度地減少訪問沖突,在提高分支預(yù)測精度的同時(shí)提升處理器整體性能。
聲明:
“一種亂序高性能核的混合分支預(yù)測裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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