本公開(kāi)提供了一種電子電氣件測(cè)試方法、裝置及相關(guān)設(shè)備,涉及電子技術(shù)領(lǐng)域。具體實(shí)現(xiàn)方案為:根據(jù)目標(biāo)類(lèi)型電子電氣件的工作特性參數(shù)和冷凝條件參數(shù),確定第一冷凝水氣候模擬參數(shù);其中,所述目標(biāo)類(lèi)型電子電氣件的最大工作電壓小于或等于預(yù)設(shè)值,所述工作特性參數(shù)包括工作溫度特性參數(shù)和工作濕度特性參數(shù),所述冷凝條件參數(shù)包括冷凝溫度條件參數(shù)和冷凝濕度條件參數(shù);根據(jù)所述第一冷凝水氣候模擬參數(shù)在模擬容器內(nèi)模擬冷凝水氣候,以對(duì)所述模擬容器內(nèi)放置的第一電子電氣件進(jìn)行冷凝水氣候測(cè)試,所述第一電子電氣件屬于所述目標(biāo)類(lèi)型電子電氣件。
聲明:
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