提供一種
電化學(xué)試片,電化學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法。此電化學(xué)試片包含一絕緣基板、一電極系統(tǒng)于絕緣基板之上、及一絕緣層于該電極系統(tǒng)上。電極系統(tǒng)包含一量測(cè)電極組、一識(shí)別電極組、及具有一預(yù)定的阻抗值的一阻抗路徑。識(shí)別電極組為金屬材料制成,而阻抗路徑為非金屬材料制成。量測(cè)電極組包含相互絕緣的一參考電極及一工作電極;識(shí)別電極組包含由此阻抗路徑連接的一第一識(shí)別電極及一第二識(shí)別電極。絕緣層覆蓋電極系統(tǒng)的一部分,其中未被絕緣層覆蓋的電極系統(tǒng)的一部分形成具有一入口的一反應(yīng)區(qū)。當(dāng)一樣品由入口注入反應(yīng)區(qū)時(shí),樣品依序接觸到量測(cè)電極組及識(shí)別電極組。
聲明:
“電化學(xué)試片,電化學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)