本發(fā)明專利公布了一種用于原位
電化學(xué)X射線衍射分析的樣品臺,屬于材料測試及研究領(lǐng)域,本裝置可以對金屬離子電池電極材料在二電極及三電極電化學(xué)充放電過程中進行原位X射線衍射分析,對材料的晶體結(jié)構(gòu),化學(xué)變化,所受應(yīng)力進行跟蹤分析,適用于目前常用的X射線衍射分析儀器,通過正極固定片和半圓形視窗的設(shè)計來實現(xiàn)任意角度的X射線衍射分析,本裝置有利于最大限度的收集光學(xué)信號,為研究電極材料的性能提供信息,具有安裝拆卸方便,適于在長期循環(huán)過程中的原位觀測等優(yōu)點。
聲明:
“用于原位電化學(xué)X射線衍射分析的樣品臺” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)