本發(fā)明公開(kāi)了一種離子色譜
電化學(xué)安培檢測(cè)用銀電極的處理方法,涉及離子色譜電化學(xué)安培檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明將機(jī)械拋光后銀電極置入處理劑溶液,在銀電極表面通過(guò)定向生長(zhǎng)與定向腐蝕協(xié)同作用形成穩(wěn)定銀晶粒結(jié)構(gòu),即以Ag與Ag
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?交換平衡為主,HNO
3和甲基磺酸的促進(jìn)溶解作用為輔,定向腐蝕銀晶粒高能面高活性銀原子同時(shí),在低能面定向沉積生成低活性銀原子,再由緩蝕劑中巰基和氮原子吸附于新生低活性銀原子表面來(lái)避免其發(fā)生溶解,從而促進(jìn)溶解平衡向低活性銀原子生成發(fā)展,最終在銀電極表面形成多個(gè)穩(wěn)定銀晶粒結(jié)構(gòu),處理后的銀電極具備較大真實(shí)面積,微觀結(jié)構(gòu)均一,具備更強(qiáng)的惰性,可提高離子色譜電化學(xué)安培檢測(cè)的檢測(cè)電流值上限和檢測(cè)壽命。
聲明:
“離子色譜電化學(xué)安培檢測(cè)用銀電極的處理方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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